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EMC診斷分析系統
更詳細的產品分類
三維多功能掃描儀
IC EMC測試設備
電磁干擾掃描系統
抗干擾開發系統
產品圖片
產品名稱/型號
產品簡單介紹
電磁兼容診斷系統
RSE321
電子產品中的電場，磁場和熱分布的設計，診斷和調試是極其重要的幾個環節，它們將直接影響電子產品的質量和可靠性。而這些性能的調試一直以來由于無法＂可視觀察＂而很困難進行。工程師往往只能夠憑工作經驗進行反復試驗。電磁兼容診斷系統積聚了現代電子產品的工程調試經驗，運用了*先進的高靈敏度高精度近場傳感器技術，結合了計算機和頻譜分析的成熟手段，電磁兼容診斷系統是給工程師以*方便實用的工具。
IC電磁發射測試系統
IEC61967-6
EC61967-6磁場探頭法是通過測試PCB板導線上的電流來評定集成電路的電磁發射所組成的IC電磁發射測試系統。IC電磁發射測試系統是芯片引腳通過PCB板上的導線與電源或外圍電路相連，因而它產生的射頻電流可用一個靠近的磁場探頭獲取，由電磁感應定律，探頭輸出端的電壓正比于導線上的射頻電流。
抗干擾開發系統
E1
大部分電子產品需要通過電快速瞬變脈沖群（Burst）和靜電放電（ESD）等項目的標準測試。測試時，把干擾脈沖從設備外部耦合到內部，同時監視設備的工作狀態。如果設備沒有通過這些標準的測試，測試本身幾乎不能提供任何如何解決問題的信息。 E1抗干擾開發系統能采用不同的方式，向電子模塊直接注入干擾電流、電場和磁場，在設備內部仿真干擾的過程，以定位電路板上電磁薄弱點，理解耦合機理，完成優化后的設計修改。 E1抗干擾開發系統不能按照某個標準進行兼容性測試。所以建議先對被測物進行標準的抗干擾測試（必要的話，在EMC實驗室進行測試），然后對可能的故障原因進行分析，再利用E1抗干擾開發系統來找出更多的故障原因，并利用E1在產品開發場地進行設計修改的評估。
高分辨率電磁干擾掃描系統
EMxpert EHX+
EMxpert EHX+ 高分辨率電磁干擾掃描系統具有1218個探頭，內置高性能頻譜分析儀能夠實時看清電磁場，準確定位電磁干擾問題。EMxpert EHX+ 高分辨率電磁干擾掃描系統把EMC問題的考慮和抑制引入到設計階段，讓設計工程師及早發現問題，及時從根源采取有效措施，消除或抑制電磁干擾，從而加快產品的設計進程，提高設計質量，節省開發費用，確保產品及早通過EMC測試。
E1 磁場探頭
S2 set
電子設備和電子元件在干擾作用下會產生快速瞬態脈沖磁場，E1 磁場探頭 S2 set探頭組中包含的有源和無源磁場探頭可以無反饋地測量這些快速瞬態脈沖磁場。借此就可以分析爆沖或ESD-過程，爆沖或ESD會對受測物產生干擾。磁場探頭通過光纖連接把測得的信號傳到SGZ 21的光學輸入口。E1 磁場探頭 S2 set探頭組只能與脈沖群發生器SGZ21 連接使用。
IC電磁發射測試系統
TEM小室法
依據IEC 61967-2的IC電磁發射測試系統-TEM小室法其實就是一個變型的同軸線，由一塊扁平的芯板作為內導體，外導體為方形，兩端呈錐形向通用的同軸器件過渡，一頭連接同軸線到測試接收機，另一頭連接匹配負載。IC電磁發射測試系統中的小室的外導體頂端有一個方形開口用于安裝測試電路板。
IC測試板
HS61967-1
依據IEC 61967-1 IC測試板，由接地平面、IC適配器、連接板等組成。 集成電路電磁兼容測試標準，目前出版的有集成電路電磁發射測試標準IEC61967和集成電路電磁抗擾度標準IEC62132以及IEC 62215。
IC電磁發射測試系統
1Ω/150Ω直接耦合法
依據IEC 61967-4的IC電磁發射測試系統-1Ω/150Ω直接耦合法是根據集成電路電磁兼容測試標準，目前出版的有集成電路電磁發射測試標準IEC61967和集成電路電磁抗擾度標準IEC62132 。依據IEC 61967-4的IC電磁發射測試系統-1Ω/150Ω直接耦合法，用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發射測試。
IC脈沖群抗擾度測試系統
HS62215
IC脈沖群抗擾度測試系統是根據集成電路電磁兼容的測試標準設計的測試系統，IC脈沖群抗擾度測試系統主要有電磁發射測試標準IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發射測試）、電磁抗擾度標準IEC 62132（用于頻率為150kHz到1GHz的集成電路射頻抗擾度測試）以及脈沖抗擾度標準IEC 62215。
溫度掃描儀
Heat Scanner
對于任何想要檢測被測件溫度分布的人來說，要同事兼顧精度和成本的話，Detectus生產的溫度掃描儀是不錯的選擇，溫度掃描儀具有很高的分辨率，測試結果可以用二維和三維的形式呈現出來。
PCB板電磁兼容掃描系統
RSE642
PCB板電磁兼容掃描系統配合高精度近場探頭對集成電路進行高精度電磁場掃描，探頭可三維移動，3D顯示，快速定位；PCB板電磁兼容掃描系統還可連接溫度探頭，進行溫度檢測。
電磁場掃描儀
EMC Scanner
EMC scanner電磁場掃描儀配合高精度近場探頭對集成電路進行高精度電磁場掃描，EMC scanner電磁場掃描儀的探頭可三維移動，3D顯示，快速定位。
四軸定位IC掃描儀
ICS 105 set
ICS 105型四軸定位IC掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。ICS 105 set 四軸定位IC掃描儀還可以單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內的測量，空間分辨率可達50μm。
電磁兼容掃描儀
HRE-1
高分辨率電磁兼容掃描儀HRE-1擁有25μm的分辨率，細致入微；同時高分辨率電磁兼容掃描儀HRE-1引入3D表面模型，讓測試更立體。
緊湊型電磁干擾掃描系統
EMxpert
EMxpert緊湊型電磁干擾掃描系統把EMC問題的考慮和抑制引入到設計階段，讓設計工程師及早發現問題，及時從根源采取有效措施，消除或抑制電磁干擾，從而加快產品的設計進程，提高設計質量，節省開發費用，確保產品及早通過EMC測試。EMxpert緊湊型電磁干擾掃描系統，由ISM電磁干擾掃描器、控制適配器以及頻譜分析儀/接收機組成。
深圳市華瑞高電子技術有限公司
地址：深圳市龍華新區布龍路與龍觀路交匯處展潤商務大廈702
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